同軸白光測(cè)量系統(tǒng)

VAS FOR INSPEC

Vertical Axial Scanner

1. MICRO.VU影像測(cè)量?jī)x可以結(jié)合使用垂直同軸白光激光系統(tǒng)

2. 可測(cè)量范圍從500μm-10000um，工作距離12.7 mm-71.5mm

3. 支持在MICRO.VU VERTEX261,341,342,Excel 511, 701, 901, 1301, 1701和2500這幾個(gè)型號(hào)上配合影像測(cè)量使用

4. 小光斑尺寸，適合測(cè)量玻璃，拋光金屬，陶瓷和涂層等材質(zhì)的產(chǎn)品

技術(shù)規(guī)格

特色

1. 非接觸式測(cè)量，無磨損，抗干擾

2. 距離和形貌

3. 寬泛的厚度測(cè)量范圍, 適用于所有表面

4. 強(qiáng)勁的測(cè)量能力,自動(dòng)光量控制