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       膠體石墨的粒度分布的測定，對于1um以下的石墨膠體粒子的粒度分布的測定法，有電子顯微鏡法和重力沉降法兩種。下面歐爾石墨小編詳細(xì)介紹一下：

       電子顯微鏡法的優(yōu)點(diǎn)是除了可以測定粒度分布外，也能知道粒子的形狀，一般采用一萬倍的電子顯微鏡照相，測定膠體石墨粒子頻數(shù)分布。重力沉降法的測定裝置為超速離心機(jī)，這種超速離心機(jī)是在相當(dāng)于重力1萬倍的強(qiáng)大離心力情況下測定膠體石墨的粒度分布的。

       在目前的生產(chǎn)實(shí)踐中，對于大于1um的膠體石墨粒子的粒度測定采用沉降法，對于小于1um的石墨微粒子，采用光透過法粒度自動測定裝置。光透過法是在粉體沉降所產(chǎn)生懸浮液濃度的變化過程中，將光束射入，由粉體的光遮斷量，間接地測定粒度分布。采用間接法，使操作手續(xù)簡單明了，在微粉測定中，較大的問題是粒子的凝聚。所以采用光透過法測定微粉粒度的時候，理想的濃度是做成含石墨0.05%的低濃度懸浮液，并加入適量的分散劑使其分散。

       顆粒粒度測定的時候，測定之前按照規(guī)定調(diào)整好儀器，并用分散液進(jìn)行空白校正。記錄筆調(diào)整好，把樣品放入離心機(jī)，進(jìn)行離心沉降測定，分別以兩次測定結(jié)果的算術(shù)平均值作為測定結(jié)果。重量累積百分?jǐn)?shù)，各粒級兩次測定值之差不能超過6%，否則必須進(jìn)行第三次測量，以三次中不超過誤差標(biāo)準(zhǔn)的兩次測定值計(jì)算結(jié)果。